Photonic Lattice 顯微相位差測量儀

Name: Photonic Lattice 顯微相位差測量儀WPA-micro
Brand: 其他品牌
Price: 10000 CNY
Availability: InStock

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產品名稱: Photonic Lattice 顯微相位差測量儀

產品型號: WPA-micro

產品特點: Photonic Lattice 顯微相位差測量儀，是專為顯微視野設計的高精度光學檢測設備，通過三波長測量技術拓展位相差測量范圍至 0～3500nm，可實現結晶配向分布評價，支持金屬等不透明樣品的反射評估，適配顯微級樣品的相位差、應力、結晶取向檢測，是材料分析、科研實驗室的專業儀器。

Photonic Lattice 顯微相位差測量儀 的詳細介紹

Photonic Lattice 顯微相位差測量儀

核心技術與性能優勢

WPA-micro 通過測量三波長的屈折 / 位相差分布，突破傳統顯微測量局限，將位相差測量范圍拓展至 0～3500nm，可在顯微鏡視野中完成高精度屈折 / 位相差測量。設備搭載三波長合成測量技術，有效消除單波長測量誤差，獲得更全面、準確的樣品相位差分布數據，位相差重復再現 σ＜0.1nm，軸方位 σ＜0.1°，確保檢測結果穩定可靠。

專屬顯微檢測能力

設備專為顯微級樣品設計，可在顯微鏡視野中數據化晶體取向分布，實現結晶配向分布評價，同時支持金屬等不透明樣品的反射評估，適配金屬、晶體、薄膜等各類顯微樣品的檢測需求。配套顯微鏡可選擇奧林巴斯或尼康品牌，滿足不同用戶的使用習慣與檢測需求，物鏡覆蓋 x2 至 x50 多倍率，適配不同尺寸顯微樣品的檢測。

應用領域廣泛

設備適用于多個行業的檢測場景：

材料科研：金屬、晶體等樣品的結晶配向、應力分布分析；
薄膜行業：各類薄膜的顯微級厚度、相位差均勻性檢測；
電子行業：半導體、芯片等微小部件的應力、相位差分析；
光學材料：水晶、玻璃等透明材料的顯微級光學特性檢測。

操作與維護

設備配套 WPA-View 專用軟件，操作界面直觀，可實時查看測量數據、生成分析報告；支持連續 / 間歇測量，適配不同檢測流程；設備結構穩定，維護簡單，GigE+RS-232C 雙接口實現數據高速傳輸與電機精準控制，配套臺式電腦可直接完成檢測操作，無需復雜調試。豐富的可選功能，可根據檢測需求靈活定制，滿足不同行業的個性化檢測需求。

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