產品資料
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
產品名稱: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
產品型號: WPA系列
產品特點: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀，是一款高精度光學測量設備，通過三波長測量技術，將位相差測量范圍拓展至 0～3500nm，適用于薄膜、透明樹脂等產品的厚度、相位差、應力測量，覆蓋從顯微鏡尺寸到約 50cm 大尺寸樣品，是光學材料、薄膜、樹脂制品檢測的專業儀器。
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀 的詳細介紹
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
WPA 系列采用三波長測量分布技術，突破傳統測量局限，將位相差測量范圍拓展至 0～3500nm，可精準測量薄膜、透明樹脂等透明 / 半透明樣品的相位差、軸方位，數據處理選項還可實現應力值換算，滿足光學材料、薄膜制品的高精度檢測需求。設備測量精度高，位相差重復再現 σ＜0.1nm，軸方位 σ＜0.1°，確保檢測結果穩定可靠。
多型號適配全場景
系列包含三款型號，覆蓋不同尺寸樣品的檢測需求：
WPA-200：小型臺式，適合實驗室、小尺寸樣品檢測，重量僅約 13kg，安裝便捷；
WPA-200-L：中型款，視野尺寸更大，適配中等尺寸樣品，兼顧精度與效率；
WPA-200-XL：大尺寸款，最大可測約 50cm 樣品，適合大型板材、面板檢測，滿足工業大尺寸樣品檢測需求。
應用領域廣泛
設備適用于多個行業的檢測場景：
光學材料：水晶、玻璃、透明樹脂等相位差、應力檢測；
薄膜行業：各類薄膜厚度、相位差均勻性檢測；
電子行業：儀表板、膠卷等產品的應力、相位差分析；
科研實驗室：材料光學特性研究、應力分析等。
操作與維護
設備配套 WPA - 視圖軟件，操作界面直觀，可實時查看測量數據、生成分析報告；支持連續 / 間歇測量，適配不同檢測流程；設備結構穩定，維護簡單，GigE 接口實現數據高速傳輸，配套臺式電腦可直接完成檢測操作，無需復雜調試。
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產品目錄
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