日本 NPS 4 探針法高精度電阻率測定器
產品名稱: 日本 NPS 4 探針法高精度電阻率測定器
產品型號: sigma-5 + 系列
產品特點: 日本 NPS 4 探針法高精度電阻率測定器,專為半導體、液晶與導電材料行業設計,可高精度測量硅晶圓、LCD 基板、金屬薄膜等材料的片電阻與體積電阻率,是生產與研發環節的理想檢測工具。
日本 NPS 4 探針法高精度電阻率測定器 的詳細介紹
日本 NPS 4 探針法高精度電阻率測定器
日本 NPS 4 探針法高精度電阻率測定器
專為半導體、液晶面板與導電材料行業的檢測需求設計,采用成熟的 4 探針測量原理,可簡便且高精度地測量硅晶圓、太陽能電池硅片、LCD 基板、金屬薄膜等材料的片電阻與體積電阻率,覆蓋從低電阻到高電阻的廣泛測量范圍。
該儀器搭載智能測量功能,通過電流極性切換抑制誤差,配合自動量程、自動調零、樣品厚度校正與溫度校正功能,大幅提升測量準確性與操作便捷性。設備配備專用的 4 探針探針與試樣臺(如 RG-5),可直接適配各類基板與薄膜樣品;同時支持數據打印與數據連接接口,便于測量數據的導出、記錄與追溯,滿足生產質量管控與科研數據管理需求。
設備采用桌面緊湊設計,安裝與使用便捷,適合生產線與實驗室環境;基于 NPS 在電阻率測量領域超過 20 年的技術積累,測量結果穩定可靠,可用于硅錠、晶圓制造過程中的產品檢查,液晶面板成膜工序檢測,以及導電材料、太陽能電池生產過程中的質量管控,為半導體與電子材料行業提供精準、高效的電學性能檢測解決方案。