產品資料
日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統
產品名稱: 日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統
產品型號: TOMOS-50R1
產品特點: 日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統 廣視野環形照明雙面顯微鏡系統，采用雙相機 + 環形照明設計，實現 9mm×7mm 大視野正反兩面同步拍攝，可完成電子元器件、PCB、光學器件的表面瑕疵、位置偏移、尺寸檢測，是電子制造領域的高效雙面檢測設備。
日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統 的詳細介紹
日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統
日本 FLOVEL 雙面檢測顯微鏡系統
日本 FLOVEL TOMOS-50R1 是專為電子元器件、光學器件打造的廣視野雙面檢測顯微鏡系統。產品采用低倍顯微鏡與環形照明結合的設計，在 1 倍視野下可實現約 9mm×7mm 的大視野雙面同步拍攝，一次操作完成工件正反兩面的全貌檢測，大幅提升檢測效率，適合批量電子元器件的外觀與位置檢測。
系統搭載雙 200 萬像素相機（彩色 / 黑白可選），支持環形照明與同軸照明同時安裝，可適配 10 倍、20 倍等多倍率物鏡，滿足不同檢測場景的成像需求；內置光軸補償、倍率補償、相機角度補償等功能，精準校正雙面檢測誤差，保障測量結果的可靠性。XY 軸 ±10mm 行程、最大 30mm 調焦范圍，適配不同尺寸工件的檢測需求。
設備功能豐富，可完成電子元器件表面瑕疵檢查、印刷物 / PCB 對齊標記偏移測量、LED 芯片 / 透鏡位置偏移檢測等，支持雙面圖像合成顯示，直觀呈現正反面對位情況；同時提供軟件、樣品夾定制服務，可根據工件形狀、材料定制專屬檢測方案，適配特殊工件的檢測需求。
TOMOS-50R1 采用 USB3.0 接口，搭配 Windows 11 Pro 控制系統，操作便捷，廣泛應用于電子元器件制造、PCB 生產、光學器件加工等領域，是企業實現雙面檢測自動化、提升產品質量的核心檢測設備。
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