Si 晶片內(nèi)部檢查檢測用近紅外鹵素光源SIS-150 -NIR介紹

Si 晶片內(nèi)部檢查檢測用近紅外鹵素光源SIS-150 -NIR介紹

SIS-150 (-NIR / -AIR)
近紅外線照射裝置

在近紅外線區(qū)域具有峰值的光纖光源裝置。
通過使用專用光學(xué)系統(tǒng)和對(duì)近紅外區(qū)域具有靈敏度的相機(jī)，它
非常適合非破壞性檢查，例如 Si 晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。

專用選件
* 可加裝波長選擇帶通濾波器
* 可加裝機(jī)械快門 * 可加裝
256級(jí)數(shù)字調(diào)光板
　* 模數(shù)調(diào)光板（控制電壓（0-5V））
　* 并聯(lián)調(diào)光板（并行8bit數(shù)字信號(hào)))
　* 串口調(diào)光板（RS232C串口8bit數(shù)字信號(hào)）

模型	SIS-150-NIR	SIS-150-AIR
額定輸入電壓	AC100-240V	AC100-240V
額定輸入頻率	50 / 60Hz	50 / 60Hz
照明方式	直流點(diǎn)燈方式	直流點(diǎn)燈方式
光強(qiáng)調(diào)節(jié)	可變輸出電壓可變電壓范圍：DC2V 至 15V 可變光強(qiáng)度范圍：0.1% 至 100%	可變輸出電壓可變電壓范圍：DC2V 至 15V 可變光強(qiáng)度范圍：0.1% 至 100%
保護(hù)功能	過流保護(hù)電路（重新上電恢復(fù)）過熱保護(hù)電路（自動(dòng)恢復(fù)）	過流保護(hù)電路（重新上電恢復(fù)）過熱保護(hù)電路（自動(dòng)恢復(fù)）
冷卻方式	強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻	強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻
工作溫度/濕度	0℃-40℃/20%-80%RH（但無冷凝）	0℃-40℃/20%-80%RH（但無冷凝）
功能	燈斷信號(hào)輸出：集電極/發(fā)射極開路模擬信號(hào)電壓調(diào)光：DC0-5V輸入遠(yuǎn)程燈ON/OFF：通過施加DC5V關(guān)閉	燈斷信號(hào)輸出：集電極/發(fā)射極開路模擬信號(hào)電壓調(diào)光：DC0-5V輸入遠(yuǎn)程燈ON/OFF：通過施加DC5V關(guān)閉
外形尺寸	W124 x H165 x D224 mm（尺寸不包括突出部分）	W124 x H165 x D224 mm（尺寸不包括突出部分）
重量	約2.7公斤	約2.7公斤
照射波長	400-1100nm	400-1700nm
峰值波長	800nm	1000nm
光導(dǎo)	標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格	專用耐熱光導(dǎo)